电子产品的质量、可靠性及稳定性（电特性）如何，一般说来由两个因素所制约：1抗干扰能力（噪声容限），2.温度适应范围。而电子产品中所选用的数字集成电路（以下简称IC）的品质如何对上述2个因素，起着决定性的作用！
　　对于IC参数测试仪与一般功能测试仪的不同点，就在于它在进行功能测试时，同时进行直流参数的定量测试。
一．输出逻辑电平测试
　一般数字逻辑用“1”、“0”来表示高、低电平。这在所谓“功能测试仪”中不能得到定量的分析。
　我们在测试过程中把IC的输出电平（TTL）定义为：小于0.4V为：“0”、高于3.5V定义为：“1”，而不是一般TTL逻辑定义：“0”〈0.7V、“1”〉3.0V。按上述定义测试IC输出逻辑电平时，还必须施加输出负载电流，以满足用户使用条件（空载测试是无效测试！）。输出电平加载测试的目的，就是为了解决开篇所述问题：提高IC的抗干扰能力（噪声容限）及IC具有更宽的工作温度范围。
　为什么“0”电平小于0.4V  及“1”电平高于3.5V的加载测试，比功能测试能更有效的解决上述问题呢？下面以TTL数字集成电路 IC，“0”电平测试为例说明。
　TTL IC 由许多（硅）三极管构成。而三极管的工作状态由基极与发射极之间（BE结）的导通电压Vbe及作用在BE结的电压Vbe所决定。一般Vbe为0.6~0.7V ，当Vbe大于这个值三极管将会导通。
1．严格区分“0”、“1”电平
　很明显只要Vb≧0.7V  三极管已经开始导通，由于“1”电平也同样大于0.7V （3.0V），此时 “0”、“1”电平无法区分！IC将处于不稳定工作状态。因此“0”电平测试选取0.4V加载测试更可靠。
2．提高抗电磁干扰能力
　IC加载测试“0”电平小于0.4V测试通过，它具备0.3V（0.7V- 0.4V=0.3V）的噪声容限。因此具有更强的吸收、抑制干扰脉冲及电磁辐射的能力。IC的输出特性：输出电流随输出“0”电平提高以指数方式增加；即当输出电流的增加许多时，输出“0”电平电压不会提高多少，不会超出0.3V的噪声容限。
3．减小电源纹波的影响
　任何电子电路中的电源（VCC）、地线（GND）都会有纹波（抖动）。一般电子产品，纹波将控制在0.3V（峰-峰值）之内。
　在实际的电路中，纹波将会叠加到IC的输出电平上产生不稳定工作状态。而选取0.4V加载测试，即便叠加上纹波也不会使得“0”电平≧0.7V！
4．减小温度变化对IC的影响
　温度上升1℃，三极管BE结的导通电压Vbe将下降0.002V。如果工作温度由10℃上升到50℃、此时作用在BE结的电压Vbe不变，那么三极管就可能由截止状态变成导通状态。选取0.4V加载测试通过的IC显然具有更宽的工作温度范围。对于“1”电平我们选取3.5V加载测试，其作用与“0” 电平0.4V加载测试类似，不再赘述。

二．电流测试
1．输出负载电流测试
　IC输出电平在空载或负载较小时，“0”电平接近0电位；高电平接近电源电压。一旦输出负载加大，IC的输出“0”、“1”电平会有较大的反方向变化：“0”、电平提高、“1”电平降低。因此IC测试中负载电流测试极为重要。
2．三态（高阻状态）漏电流测试
  三态为IC数字逻辑中的一种特殊状态。对此状态的漏电流测试，为有效测试。如果IC此三态下存在漏电流，那么对于电子系统将产生极为严重的后果：漏电流—﹥温度↑—﹥漏电流↑—﹥温度↑—﹥……↑最终系统将崩溃！
　例如：我们在给某单位提供IC测试解决方案时，发现该单位生产的一台电子设备，开机工作正常，但2小时之后系统瘫痪，30分钟可以重新开机工作。2小时之后系统再次瘫痪，……每每如此。经查系统总线上一片74LS245三态漏电流较大，更换一片测试通过的74LS245后，设备工作正常。三态是数字IC真值表中常见的功能，但功能测试仪不测此功能。
3．输入电流测试
　许多数字逻辑单元的堆砌，构成了数字电路系统。若其中某部分出现故障，很难判断是下级IC的输出端有问题，还是本级IC的输入端有问题。输入端的问题，通常是输入电流或输入漏电流不正常。这些问题将产生导致与三态漏电流类似的恶果，而且将使系统低温工作、出现电磁干扰时系统工作不正常！为了解决上述问题、改善系统低温工作效能。必须测试IC输入电流。
4．交叉漏电流测试
　IC输入端交叉漏电流测试的目的：解决同一IC芯片中，不同的输入端之间的相互影响问题。这个问题将导致，系统在温度变化较大时、系统出现电磁干扰时，工作不正常！

三．电子产品低温工作问题
　74系列IC的工作环境温度为0—70℃。74系列IC有可能在0℃以下正常工作吗？回答是肯定的！但必须对IC进行更严格的直流参数测试、筛选。经过筛选测试通过的IC，通常具有更高的输出负载能力，更小的输入能耗。因而由此IC构成的电子设备，能在很低的温度下工作。我们提供的测试解决方案，使得某种工作在﹣25℃电子产品中，使用了许多74系列IC。

四．数字IC测试的有效性
　数字IC的功能测试仅仅测试IC的一部分输出功能（类似于“三态”、“OC”功能不能测试），更不能完成上述的各项直流参数测试。可以认为：所谓数字IC的功能测试，对于提高电子产品的质量，没有任何帮助，属于无效测试！只有完成输入、输出、电流、电压、功耗等等各项直流参数、且完成全部真值表功能测试，才是相对完整的数字IC测试。有助于电子产品的质量。国内数字集成电路参数测试仪的典型代表是Simi-100。

五．测试成本分析
　集成电路（IC）测试伴随着集成电路的发展而发展。集成电路的测试，尤其是进厂的检验、测试对其应用也是十分必要的，图1表示出发现每故障检出费与检出阶段的关系。从图可以看出，产品进厂检验（器件级测试）每故障检出费用为0.3美元，在印制电路板上（板级）测试则检出费提高一个数量级，系统级及维修阶段测试，其每故障检出费用分别提高2个和3个数量级。可见，集成电路进厂的测试不仅对确保系统可靠性有重要作用，而且对降低系统成本意义也十分重大。

　　Simi-100  数字IC多值逻辑测试仪，是通过总结国外同类产品的优点,本着实用、方便、测试精准的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。Simi-100  数字IC多值逻辑测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试并同时完成各项直流参数测试。Simi-100完全可以满足数字IC用户的直流参数测试要求。Simi-100是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的优秀测试仪器。它具以下主要特点。

1．测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。

2．对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。

3．真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。

4．对IC输入电流、功耗电流测试。

5．输入漏电流及交叉漏电流测试。

6．测试过程无须人工干预。

7．用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。

8．可自动识别74系列中的CMOS器件。

9．可以查找未知IC的型号。

　　目前Simi-100的作用单位已遍及通信、电子仪器、电力电子、办公自动化设备、计算机整机、交通电子、消防科学器材等各个领域，并获用户一致好评。